电子产品盐雾测试

什么是盐雾腐蚀？

盐雾是指大气中由含盐微小液滴所构成的弥撒系统，其成因主要是由于海洋中的海水剧烈地扰动，风浪破碎，海浪拍岸而产生大量的泡沫、气泡;气泡破裂时会产生微小的水滴，海水滴中的大部分因重力作用而降落;部分处于同涡动扩散保持平衡的状态而分布于海面上，随气流升入空中，经裂解、蒸发、混并等过程而演变成弥撒系统，形成大气盐核;在气流的作用下，其高度可达2000多 米的高空，范围可扩散到距离海洋许多公里之处，甚至数百公里 。有研究者观测计算，海洋每年向陆地输送约2.72×1010吨盐核量。另外，在盐碱地区形成的盐尘雾，会对设备产生与盐雾类似的影响作用，本文将着重讨论盐雾。

据美国有关资料统计表明，在美国军用飞机的现场故障中，50%左右是环境造成的其中，温度占40%，振动占27%湿热占19%沙尘占5%，盐雾占4%，可见盐雾影响在近20种环境因素中居第五位，是一个不可忽视的破坏性因素。

q-fog盐雾试验箱

盐雾腐蚀对电子产品性能的影响

大体分为3类:腐蚀效应、电效应和物理效应

近年来，有人对集成电路、需达天线罩等产品受盐雾的影响进行了研究，结果表明，集成电路由于电化学反应，导致腐蚀物的生成，破坏电路的表而和性能同时，与材料与密封性有一定的联系，封装气密性较好时，塑料封装和玻璃封装只有引线受腐蚀的影响，陶瓷封装受腐蚀的影响较大。盐雾明显增大天线罩对需达波的反射，形成的闪烁瓣会引起虚警，降低罩壁透射，形成需达盲区。

自1914年为了模拟海洋大气环境条件而提出盐雾试验方法以来，已有近百年的历史目前，盐雾试验方法多种多样，根据应用范围的不同，大体上可以分为设备级、元器件级和材料级等。

CRH复合盐雾试验箱

元器件盐雾试验

元器件盐雾试验均为连续喷雾，从表中可以看出，不同元器件盐雾试验中盐溶液浓度相差较大，可能是因为不同元器件而临的环境条件不同，而相应提出不同的盐雾要求。

盐雾试验自应用以来，在提高材料与产品的耐 盐雾腐蚀方面起到了非常重要的作用。但在电子行业，盐雾试验应用中存在部分误区，譬如，采用材 料代替整机进行考核;认为产品通过盐雾试验，则不会出现盐雾腐蚀问题等。 我们认为，对于电子产品耐盐雾性能包含两个层面的意义，

1)产品在盐雾环境中能够正常工作和 贮存;

2)产品在一定程度上能够耐受盐雾长期腐蚀。

盐雾试验箱在电子产品盐雾测试中的应用

目前，电子产品评价中常常应用耐盐雾测试方法来评价设备耐盐雾性能，在这类型的试验中，考核的是电子产品短期在盐雾环境中能够正常工作和贮存的性能，并不表明电子产品在海洋大气环境中不会发生盐雾腐蚀，但可发现设备的设计缺陷、质量控制欠缺等。盐雾试验正确应用于电子产品研制过程中，能够提高电子产品耐盐雾腐蚀性能。例如，在有耐盐雾腐蚀要求的产品研制过程中，优选耐腐蚀性能优异的材料与元器件等，产品耐腐蚀性能相应地得到提高。通过材料、元器件、组件及整机层层把关，从而提高产品的耐盐雾腐蚀性能。

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